E933 em 2 V 2 9 nein Deutsch Klausur E933 Elektrotechnik 9 Wahlpflichtfach Die Präsenzzeit dieses Moduls umfasst bei 15 Semesterwochen 30 Veranstaltungsstunden (= 22.5 Zeitstunden). Der Gesamtaufwand des Moduls beträgt bei 2 Creditpoints 60 Stunden (30 Stunden/ECTS Punkt). Daher stehen für die Vor- und Nachbereitung der Veranstaltung zusammen mit der Prüfungsvorbereitung 37.5 Stunden zur Verfügung. Prof. Dr. Volker Schmitt vsc Prof. Dr. Volker Schmitt vsc Die Studierenden erkennen die Problematik und die Notwendigkeit des Testens in elektronischen Schaltungen. Mit den Kenntnissen über die gängigen Testverfahren besitzen sie das Rüstzeug, um testfreundliche Entwürfe sicher zu stellen, über den Einsatz bestimmter Testverfahren zu entscheiden und sich weitere spezielle Gebiete der Testproblematik zu erschließen. - Einleitung, Verifikation, Validierung, Identifikation, - Fehlermodelle, Haftfehler, Fehleräquivalenz, Fehlerdominanz, - Testmusterberechnung, boolesche Differenz, Pfadsensibilisierung, D-Algorithmus, - Fehlersimulation, Methoden, Testbarkeitsanalyse, Steuerbarkeit, Beobachtbarkeit, statistische Verfahren, Schätzverfahren, - testfreundlicher Entwurf (design for testability), - Unterbrechungsfehler, Verzögerungsfehler, Reed-Muller-Form, Prüfbus, Selbsttest integrierter Schaltungen, - Testmustergenerator, Zähler, linear und nichtlinear rückgekoppelte Schieberegister, Testdatenkompression, Signaturanalyse, - Boundary-scan Testverfahren Folien, Kopiervorlagen der Folien DAEHN, W.: Testverfahren in der Mikroelektronik; Springer, 1997 AUER, A.; KIMMELMANN, R.: Schaltungstest mit Boundary-Scan; Hüthig, 1996 Einführung in das Boundary-Scan Testverfahren; Hewlett Packard HP Boundary-Scan Tutorial and BSDL Reference Guide; Hewlett Packard The ABCs of Boundary-Scan Test; Philips Tue Aug 18 04:52:40 CEST 2026, CKEY=eta, BKEY=em, CID=[?], LANGUAGE=de, DATE=18.08.2026